Formation Maîtrise Statistique des Processus (MSP) II : Capabilité et Etudes R&R - Sigma Plus

Maîtrise Statistique des Processus (MSP) II : Capabilité et Etudes R&R (F-msp-01)
     

Analyser les sources de variabilité d'un système de mesure ou d'un processus de production : calculer et comparer les composantes de la variance.


Informations
Public : Toute personne chargée du contrôle de la qualité ou de la maîtrise statistique des procédés et souhaitant renforcer ses compétences dans ce domaine.
Pré-requis : Il est conseillé d'avoir participé au préalable au stage Pratique de la Statistique I ou d'avoir acquis par la pratique un niveau équivalent.
Méthode : Alternance d'exposés, de manipulations et d'exercices pratiques mis en oeuvre dans StatGraphics (ou tout autre logiciel en intra-entreprise).
Durée : 2 jour(s)
Prochaine(s) session(s) :
Lieu Du Au
Paris14/10/2010 15/10/2010
Paris12/05/2011 13/05/2011
Toulouse27/10/2011 28/10/2011
Paris08/12/2011 09/12/2011

Frais d'inscription :
- Inter-entreprises : Prix unitaire par stagiaire(s) inscrit(s)
1 inscrit2 inscrits 3 inscrits et +
1000€ HT850€ HT700€ HT
- Intra-entreprise : Nous consulter
Programme
- Présentation du contexte général de la maîtrise statistique des processus

- Présentation de l'analyse de la variance
  • Modèles à effets fixes


  • Modèles à effets aléatoires

  • Facteurs totalement hiérarchisés
    Facteurs partiellement hiérarchisés : Mesures répétées, Split-Plot,...
- Analyse des composantes de la variance
  • Application à l'analyse du système de mesure

  • Analyse graphique des variabilités
    Calcul des variances de répétabilité et de reproductibilité, des incertitudes de mesure, des indicateurs P/T et R&R
    Vérifier l'aptitude d'un système de mesure à une application donnée

  • Application à l'analyse de la variabilité totale d'un processus

  • Analyse graphique des variabilités
    Calcul et comparaison des composantes de la variance du processus
    Identification des causes de variabilité majeure
    Analyse de la capabilité d'un processus : indices d'aptitude Cp, Cpk, Cpm pour un échantillon suivant une loi normale et pour un échantillon ne suivant pas une loi normale
    Intervalles de confiance pour les indices d'aptitude


Pour plus de renseignements, contactez :

Cédric CALAS

- Tél : 05 34 31 82 70




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