Formation Maîtrise Statistique des Processus (MSP-SPC) - Sigma Plus
Maîtrise Statistique des Processus (MSP-SPC) (F-msp-00)
Comprendre et maîtriser les principaux outils de la maîtrise statistique des processus (MSP) : les cartes de contrôle, la capabilité process et les plans d'échantillonnage pour le contrôle de réception.
Informations
Public : Toute personne chargée du contrôle de la qualité ou de la maîtrise statistique des procédés et souhaitant renforcer ses compétences dans ce domaine Pré-requis : Il est conseillé d'avoir participé au préalable au stage Pratique de la Statistique I ou d'avoir acquis par la pratique un niveau équivalent Méthode : Alternance d'exposés, de manipulations et d'exercices pratiques mis en oeuvre dans StatGraphics (ou tout autre logiciel en intra-entreprise)
Durée : 3 jour(s)
Prochaine(s) session(s) :
Lieu
Du
Au
Paris
02/04/2012
04/04/2012
Toulouse
24/09/2012
26/09/2012
Paris
12/11/2012
14/11/2012
Frais d'inscription :
- Inter-entreprises : Prix unitaire par stagiaire(s) inscrit(s)
- Fondements de la Maîtrise Statistique des Processus (MSP)
Notion de variabilité - Causes aléatoires, causes assignables
Stabilité d'un processus
- Rappels sur les outils statistiques pour la MSP
Loi Normale, binomiale et poisson, échantillonnage et intervalles de confiance
- Cartes de contrôle
Cartes aux mesures (pour des caractéristiques continues)
Les cartes de Shewhart pour la détection des déréglages brusques: cartes moyenne/étendue, moyenne/écart-type
Calcul des limites de contrôle à partir d'une période de référence
Utilisation des limites de contrôle calculées : règles d'interprétation et détection des points hors contrôle, propriétés des cartes de contrôle (calcul de la période opérationnelle moyenne et du risque de fausse alerte)
Influence de la taille des échantillons sur la puissance des cartes, validité des limites en cas de valeurs manquantes
Calcul de nouvelles limites de contrôle
Tests supplémentaires de séquences
Les cartes aux mesures individuelles
Autres cartes aux mesures pour la détection de dérives lentes : CUSUM, EWMA, MA, ARIMA
Calcul des limites de contrôle à partir d'une période de référence
Utilisation des limites de contrôle calculées : règles d'interprétation et détection des points hors contrôle, propriétés des cartes de contrôle
Comparaison avec les cartes de Shewhart
Cartes aux attributs (pour des caractéristiques discrètes)
Les cartes p, np, c, u et aux démérites
Calcul des limites de contrôle à partir d'une période de référence
Utilisation des limites de contrôle calculées : règles d'interprétation et détection des points hors contrôle, propriétés des cartes de contrôle (calcul de la période opérationnelle moyenne et du risque de fausse alerte)
Influence de la taille des échantillons sur la puissance des cartes, validité des limites en cas de valeurs manquantes
Cartes multivariées (dans le cadre de la maîtrise de processus multidimensionnels)
Carte du T2 de Hotelling
Calcul des limites de contrôle
Utilisation des limites de contrôle calculées : règles d'interprétation et détection des points hors contrôle
Cartographie des différents types de cartes de contrôle : conditions d'utilisation, critères de choix
- Capabilité process
Analyse de la capabilité d'un processus : indices d'aptitude Cp, Cpk, Cpm pour un échantillon suivant une loi normale et pour un échantillon ne suivant pas une loi normale
Intervalles de confiance pour les indices d'aptitude
- Contrôle de Réception
Notions fondamentales et termes spécifiques : NQA, NQL, risque fournisseur, risque client, efficacité d'un plan d'échantillonnage,
Contrôle de réception par attributs ou par mesurage,
Règle d'échantillonnage dans le cas d'échantillonnage simple, double ou multiple,
Les différents types de contrôle : normal, réduit ou renforcé et les règles de transition, les niveaux de contrôle,
Définition d'un plan d'échantillonnage et d'une règle de décision, efficacité du plan défini.